Зависимость между микроструктурой материала и качеством высоковольтных изоляторов (Продолжение)
- корунд — в микроструктуре образца А наименьшее содержание пластинок корунда размером 2 – 10 мкм (см. рис. 7, а, б); в образце В пластинок корунда такого же размера больше (см. рис. 8, а, б); наибольшее содержание кристаллитов корунда размером 5 – 20 мкм в образце С (см. рис. 9, а, б);
Рис. 7. Микроструктура образца А (химически травленный шлиф), снятая на микроскопе РЭМ:
а — увеличение 1000:1 и 2000:1; б — увеличение 3000:1 и 5000:1
